QuaNix 4200/4500涂層測(cè)厚儀

描述：QuaNix 4200 / 4500 涂層測(cè)厚儀
本儀器用于精確測(cè)量涂層（鍍層）厚度。

更新時(shí)間：2024-10-25

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詳情介紹

QuaNix 4200 / 4500 涂層測(cè)厚儀
   本儀器用于精確測(cè)量涂層（鍍層）厚度。
    主要技術(shù)參數(shù)
1 、測(cè)量范圍：0-3000μm
2 、測(cè)量精度： 0-50μm ≤ ±1μm   50-1000μm≤ ±1.5%   1000-2000μm≤ ±2%   2000-3000μm≤ ±3%
3 、外形尺寸：100*60*27mm

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